Gama de Máquinas NIKON para Servicios de Inspección | Rayos-X / Tomografía Computerizada

Basado en los datos de imagen obtenidos por rayos X, las dimensiones del objeto se cuantifican cualitativamente mediante la tecnología de Tomografía Computerizada.

Máquina de inspección CT | XT H 225 ST 2x / XT H 225

Equipos adecuados para una amplia gama de aplicaciones, como pequeñas fundiciones, investigación de materiales y piezas de plástico.

Voltaje máxima / Potencia máxima - 225kV / 225W

Longitud focal - Microfocus 225kV: 3μm / Transmisión 180kV: 1μm

Máquina de inspección TC | XT H 320

Equipo que permite una excelente resolución y precisión.

Voltaje máxima / Potencia máxima - 320kV / 320W

Longitud focal - Microfocus 225kV: 3μm /Módulo de  320kV: 30μm

Máquina de inspección TC | XT H 450

Equipo equipado con una potente fuente de rayos X de microfoco de 450kV.

Voltaje máxima / Potencia máxima - 450kV / 450W

Longitud focal - 80μm

Máquina de inspección TC configurable |  C2 Gran Escala

Equipo que permite múltiples combinaciones de fuentes de rayos X, detectores y manipuladores.

Voltaje máxima / Potencia máxima - 225kV / 225W 225kV / 450W 320kV / 320W 450kV / 450W

Longitud focal - Por combinación

Máquina de medición TC de alta precisión | MCT225

Equipo que mide eficientemente dimensiones internas y externas de forma no destructiva.

Precisión de medición (μm)^1*  [VDI / VDE 2630] - 9 + L / 50μm

Tamaño de la muestra (precisión garantizada) - Diámetro exterior: 240 mm / Altura: 200 mm / Peso: 5 kg

^{1 *} Diámetro exterior máximo 240 mm, altura 200 mm, medición de muestra de un solo material

Los equipos de inspección por transmisión de Rayos-X obtiene imágenes del interior de lo componente electrónico y complejo mediante rayos X.

Máquina de inspección por transmisión Rayos X | XT V 130C

Equipo compacto, fácil de usar y económico.

Longitud focal - 3 μm

Tamaño mínimo detectable del defecto: 2 μm

Ángulo de inclinación máximo: 204°

Máquina de inspección por transmisión Rayos X | XT V 160

Equipo sofisticado para pequeños componentes electrónicos.

Longitud focal - 1 m

Tamaño mínimo detectable del defecto: 500 nm

Ángulo de inclinación máximo: 75°