Gama de Máquinas NIKON para Servicios de Inspección | Rayos-X / Tomografía Computerizada
Basado en los datos de imagen obtenidos por rayos X, las dimensiones del objeto se cuantifican cualitativamente mediante la tecnología de Tomografía Computerizada.
Máquina de inspección CT | XT H 225 ST 2x / XT H 225
Equipos adecuados para una amplia gama de aplicaciones, como pequeñas fundiciones, investigación de materiales y piezas de plástico.
Voltaje máxima / Potencia máxima - 225kV / 225W
Longitud focal - Microfocus 225kV: 3μm / Transmisión 180kV: 1μm
Máquina de inspección TC | XT H 320
Equipo que permite una excelente resolución y precisión.
Voltaje máxima / Potencia máxima - 320kV / 320W
Longitud focal - Microfocus 225kV: 3μm /Módulo de 320kV: 30μm
Máquina de inspección TC | XT H 450
Equipo equipado con una potente fuente de rayos X de microfoco de 450kV.
Voltaje máxima / Potencia máxima - 450kV / 450W
Longitud focal - 80μm
Máquina de inspección TC configurable | C2 Gran Escala
Equipo que permite múltiples combinaciones de fuentes de rayos X, detectores y manipuladores.
Voltaje máxima / Potencia máxima - 225kV / 225W 225kV / 450W 320kV / 320W 450kV / 450W
Longitud focal - Por combinación
Máquina de medición TC de alta precisión | MCT225
Equipo que mide eficientemente dimensiones internas y externas de forma no destructiva.
Precisión de medición (μm)1* [VDI / VDE 2630] - 9 + L / 50μm
Tamaño de la muestra (precisión garantizada) - Diámetro exterior: 240 mm / Altura: 200 mm / Peso: 5 kg
1 * Diámetro exterior máximo 240 mm, altura 200 mm, medición de muestra de un solo material
Los equipos de inspección por transmisión de Rayos-X obtiene imágenes del interior de lo componente electrónico y complejo mediante rayos X.
Máquina de inspección por transmisión Rayos X | XT V 130C
Equipo compacto, fácil de usar y económico.
Longitud focal - 3 μm
Tamaño mínimo detectable del defecto: 2 μm
Ángulo de inclinación máximo: 204°
Máquina de inspección por transmisión Rayos X | XT V 160
Equipo sofisticado para pequeños componentes electrónicos.
Longitud focal - 1 m
Tamaño mínimo detectable del defecto: 500 nm
Ángulo de inclinación máximo: 75°