Nuevo sistema de tomografía computerizada con inspección mejorada y doble productividad | XT H 225 ST 2x | Nikon

Como habíamos compartido anteriormente, este nuevo sistema de tomografía computarizada, además de las funciones Half.Turn CT y Rotating.Target 2.0 también se suman otras, de las cuales Auto.Filament Control y Quick.Change, Local.Calibration y One.Source 4Targets.

Máxima disponibilidad para una alta productividad de inspección

Nikon Metrology concluyó que hay dos factores importantes para lograr una alta productividad de inspección:  primero, la adquisición y reconstrucción de datos a alta velocidad; y en segundo lugar, el tiempo máximo de disponibilidad del sistema de rayos X.

La disponibilidad del equipo depende de no solo de su fiabilidad, sino también de las paradas para realizar el mantenimiento, como el reemplazo periódico de filamentos.

Auto.Filament Control y Quick.Change

Antes, el cambio periódico de filamentos requería mucho tiempo de la disponibilidad del equipo, ahora con este nuevo sistema es posible un cambio de filamento menos frecuente, ya que Nikon ofrece nuevos filamentos de larga duración.

Con la XT H 225 ST 2x, el usuario ya no necesita elegir filamentos de alta resolución y larga duración, ya que Auto.Filament Control controla automáticamente (gracias al nuevo algoritmo) la fuente de rayos X para duplicar la vida útil del filamento y aumentar la disponibilidad del sistema.

Cuando existe la necesidad de cambiar este filamento, el tiempo de disponibilidad se reduce considerablemente debido a la nueva introducción de las cápsulas de filamento plug-and-play Quick.Change.

Local.Calibration | Mediciones de alta precisión

Local.Calibration permite una calibración rápida y automatizada del voxel size, en cualquier posición del escaneo, o sea, sin que el usuario tenga que realizar la función manualmente. Esto conduce a una mejora extrema en la precisión de la medición para aplicaciones de metrología.

Otra ventaja, es que el procedimiento es sencillo y la precisión dimensional es rastreable. Como la posición de escaneo se calibra con referencia a un artefacto conocido, las mediciones se pueden realizar con un alto nivel de confianza.

Fuente de rayos X para cada aplicación

El XT H 225 ST 2x se puede configurar con detectores de panel líderes en la industria de hasta 2.880 x 2.880 píxeles (150 µm). 

Donde los modelos de la competencia requieren configuraciones de dual-tube para mayor flexibilidad, el diseño de la exclusiva fuente de rayos X de Nikon en la XT H 225 ST 2x permite que hasta 4 targets encajen en la misma base de tubo de rayos X, dando como resultado un aumento de la flexibilidad y del rendimiento con un único tubo. Mientras, se evita la compra y mantenimiento de otros tubos y accesorios.

Todos los targets son intercambiables por el usuario, de forma rápida y sin esfuerzo, para optimizar el rendimiento del sistema en una amplia gama de muestras.

Esto significa que la XT H 225 ST 2x no solo es adecuada para la inspección en serie, sino que también se aplica a las necesidades de I+D, pre-series support, control de calidad y análisis de defectos o fallas.