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Offset.CT - Un nuevo algoritmo de reconstrucción de muestras para los sistemas de inspección de TC de Nikon Metrology

Cuando se utiliza la Tomografía Computerizada de Rayos X no destructiva para el control de calidad, como en muestras de aluminio fundido o los módulos de baterías para vehículos eléctricos, el reto consiste en reduzir los tiempos del ciclo de inspección sin comprometer la resolución. Un requisito previo para conseguirlo es una alta intensidad o flujo de Rayos X.

En la serie de sistemas de Tomografía Computerizada de rayos X de Nikon Metrology, un objetivo rotativo puede triplicar el flujo para un tamaño de punto focal determinado y eso flujo puede aumentarse aún más mediante la distancia motorizada del FID (punto focal al generador de imágenes), que acerca el detector a la fuente con sólo pulsar un botón.

Con estas combinaciones únicas del último sistema de inspección de Nikon, Rotating.Target 2.0 y Offset.CT, los tiempos de los ciclos de escaneado se reducen significativamente y se consigue una mejor resolución, incluso cuando se inspeccionan componentes complejos y a gran escala.

Offset.CT - Mejora la resolución al escanear muestras de menor o mayor escala

Offset.CT es un procedimiento de escanear que permite la inspección completa de muestras pequeñas o grandes durante la rotación gracias a su amplio campo de visión (FOV). La muestra se coloca de tal manera que solo la mitad está dentro del flujo de Rayos X, permitiendo un campo de visión mucho más amplio y un volumen de reconstrucción.

Por lo tanto, con la funcionalidad Offset.CT se pueden escanear muestras más grandes, incluso más anchas que el propio detector, sin tener que utilizar una máquina de TC más grande o configurable, y se ponen mucho más cerca de la fuente de rayos X, permitiendo una mayor ampliación y, por lo tanto, una resolución de voxel significativamente mayor, y también permite inspeccionar una gama más amplia de tamaños de muestra sin perder calidad de resolución.

La rotación del objetivo triplica la potencia

Rotating.Target 2.0, es capaz de generar Rayos X tres veces más potentes para un tamaño de punto determinado de microfocos, sin reducir la resolución de la imagen. En consecuencia, los tiempos de digitalización son más reducidos y/o se pueden penetrar muestras más densas.