Sistemas Configurables de Rayos X & Tomografía Computerizada a Gran Escala (LES) de Nikon
Los sistemas de inspección por Rayos X y Tomografía Computarizada (TC) a gran escala de Nikon Metrology ofrecen tecnología de rayos X líder en la industria. Con un diseño ultrapreciso, software intuitivo y modos de escaneo avanzados, brindan los sistemas de TC estándar más capaces disponibles en el mercado.
Con un gran volumen de inspección, estos sistemas admiten múltiples fuentes y detectores y la ventaja de estar configurados individualmente para adaptarse a una variedad de aplicaciones en la industria aeroespacial, automotriz, producción, electrónica, fundición, plásticos, productos de consumo fina, entre otros.
La digitalización de Rayos X y TC de precisión, permite una variedad de aplicaciones: en ingeniería inversa, comparación de piezas para CAD, análisis detallado de fallas, materiales avanzados de investigación biológica, archivo digital y otros más.
Amplia gama de opciones para Rayos-X y TC de precisión
La gama LES se puede construir en una multitud de configuraciones para satisfacer las aplicaciones más exigentes de la industria, desde muestras pequeñas de baja densidad hasta muestras grandes con materiales de alta densidad.
Versatilidad inigualable de LES
La serie LES ofrece varias opciones de modelos: E1, M2, C1, C2 y C3. Soluciones personalizables, desde configuraciones de una sola fuente y cabina pequeña hasta fuentes triples y configuraciones de cabina más grandes. Los sistemas pueden instalarse en un recinto de radiación existente o suministrarse con un nuevo recinto modular con un diseño ergonómico y funciones intuitivas para los usuarios.
Para muestras que son más densas, más pesadas o con múltiples medidas de altura, LES se puede configurar y personalizar, incluidas opciones para detectores de panel de escaneo rápido y fucniones X.Tend helicoidales para todos los tamaños de muestra, lo que aumenta su versatilidad.
La base de granito proporciona un escaneo ultrapreciso, donde en las series E y M el manipulador de muestras tiene desplazamiento vertical. La serie C, por otro lado, tiene una fuente de rayos X vertical intuitiva y un detector de movimiento, lo que la hace más adecuada para cualquier aplicación.
Tecnología de fuente de rayos X de alta potencia
La tecnología avanzada de fuente de rayos X líder en el mundo, diseñada internamente con una clasificación de 180 kV a 450 kV, es el núcleo de la calidad de imagen superior de los sistemas de Rayos X y TC de Nikon Metrology.
La única fuente de rayos X de microfoco de alta energía de 450 kV y la tecnología de objetivo rotativo de alto brillo dan como resultado una resolución de imagen superior, en comparación con todos los demás sistemas de microfoco del mercado, y mucho mejor que el que se obtiene con las fuentes de minifoco.
Esto permite la adquisición de datos de TC más rápido, tomando más radiografías en un momento dado, sin perder calidad de imagen, o mayor precisión y resolución de datos al mismo tiempo.
Sin embargo, existe la posibilidad de combinar un microfocos de 450 kV y una fuente de minifocos de 450 kV en el mismo sistema.
Especificaciones de modelos estándar disponibles
