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Gama de Máquinas NIKON para Serviços de Inspeção | Raio-X / Tomografia Computorizada

Com base nos dados da imagem obtidos pelos raios-X, as dimensões da amostra são qualitativamente quantificadas pela tecnologia de Tomografia Computorizada.

Máquina de inspeção CT  | XT H 225 ST 2x / XT H 225

Equipamentos adequados para uma ampla gama de aplicações, como fundições pequenas, peças plásticas e pesquisa de materiais.

Tensão máxima / potência máxima  - 225kV / 225W

Tamanho focal - Microfoco 225kV: 3μm / Transmissão de 180kV: 1μm

Máquina de inspeção CT  | XT H 320

 Equipamento que permite excelente resolução e precisão.

Tensão máxima / potência máxima  - 320kV / 320W

Tamanho focal - Microfoco 225kV: 3μm / Módulo de 320kV: 30μm

Máquina de inspeção CT  | XT H 450

 Equipamento equipado com uma poderosa fonte de raios-X de microfoco de 450kV.

Tensão máxima / potência máxima  - 450kV / 450W

Tamanho focal - 80μm

Máquina para inspeção CT configurável | Larga Escala C2

 Equipamento que permite múltiplas combinações de fontes de raios-X, detetores e manipuladores.

Tensão máxima / potência máxima - 225kV / 225W 225kV / 450W 320kV / 320W 450kV / 450W

Tamanho focal - Por combinação

Máquina de medição CT MCT225

Equipamento que mede eficientemente as dimensões internas e externas de forma não destrutiva.

Precisão de medição (μm)1* [VDI/VDE 2630] - 9+L/50μm

Tamanho da amostra (precisão garantida) - Diâmetro externo: 240 mm / Altura: 200 mm / Peso: 5 kg

 1*Diâmetro externo máximo 240 mm, altura 200 mm, medição de amostra de material único

Os equipamentos de inspeção por transmissão Raios-X obtêm imagens do interior do componente eletrónico e complexo por Raio-X.

Máquina de inspeção por transmissão Raios-X | XT V 130C

Equipamento compacto, fácil de usar e económico.

Tamanho focal - 3 μm

Tamanho detetável de defeito mínimo - 2 μm

Ângulo máximo de inclinação - 204°

Máquina de inspeção por transmissão Raios-X | XT V 160

Equipamento sofisticado para pequenos componentes eletrónicos.

Tamanho focal - 1 μm

Tamanho de defeito mínimo detetável - 500 nm

Ângulo máximo de inclinação - 75°