Offset.CT – Um novo algoritmo de reconstrução de amostras dos sistemas de inspeção de Tomografia Computadorizada da Nikon Metrology

Na utilização da Tomografia Computadorizada de Raios X não destrutiva para controlo de qualidade de amostras maiores como peças fundidas em alumínio ou módulos de bateria para veículos elétricos, o desafio é encurtar os tempos de ciclo de inspeção sem comprometer a resolução. Um pré-requisito para o conseguir é uma elevada intensidade ou fluxo de Raios X.

Na série de sistemas de Tomografia Computadorizada de Raios X da Nikon Metrology, um target rotativo pode triplicar o fluxo para um determinado spot size focal e esse feixe pode ser mais aumentado por FID (focal spot to imager distance) motorizado, o que aproxima o detetor da fonte com o premir de um botão.

Com estas combinações exclusivas do mais recente sistema de inspeção da Nikon, o Rotating.Target 2.0 e 0 Offset.CT, os tempos de ciclo das digitalizações são significativamente reduzidos e conseguem uma melhor resolução, mesmo quando se inspecionam amostras com uma escala maior e complexos.

Offset.CT - Melhora a resolução quando se digitalizam amostras de menores ou maiores escalas

Offset.CT é um método de digitalização que permite a inspeção completa de amostras pequenas ou grandes durante a rotação devido ao seu amplo campo de visão (FOV). A amostra é colocado de tal forma que apenas metade dela se encontra dentro do feixe de Raios X, permitindo um FOV muito mais amplo e um volume de reconstrução.

Portanto, com a funcionalidade Offset.CT as amostras maiores, mesmo as mais largas do que o próprio detetor, podem ser digitalizadas sem ter de se utilizar uma máquina de Tomografia Computadorizada maior ou configurável, que sejam colocadas muito mais próximo da fonte de raios X, permitindo uma maior ampliação e, logo, uma resolução de voxel significativamente aumentada, e permite também uma gama mais ampla de tamanhos de amostras a inspecionar sem perder qualidade de resolução.

A rotação do target triplica a potência

Rotating.Target 2.0, é capaz de gerar Raios X que são três vezes mais poderosos para um determinado tspot size de microfocos, sem reduzir a resolução da imagem. Os tempos de digitalização são consequentemente mais curtos e/ou amostras mais densas podem ser penetradas.