Os sistemas de inspeção por Tomografia Computorizada e Raio-X de larga escala da Nikon Metrology oferecem uma tecnologia líder da indústria Raios-X. Com um design ultra preciso, um software intuitivo e com modos avançados de digitalização, fornecem os sistemas de Tomografia Computorizada standard mais capacitados disponíveis no mercado.

Com um volume de inspeção grande, estes sistemas suportam múltiplas fontes e detetores   e a vantagem de serem configurados de forma personalizada para se adequar a uma variedade de aplicações nas indústrias aeroespacial, automóvel, produção, eletrónica, fundição, plásticos, produtos de consumo final, entre outros.

A digitalização do Raio-X e Tomografia Computorizada de precisão, permite uma variedade de aplicações: na engenharia inversa, comparação de peças para CAD, análise detalhada de falhas/fissuras, materiais de estrutura biológica de pesquisa avançada, arquivo digital e muito mais.

Ampla gama de opções para Raios-X e Tomografia Computadorizados de precisão

A gama dos LES pode ser construída em uma multiplicidade de configurações para atender às aplicações mais exigentes da indústria, desde pequenas amostras de baixa densidade até grandes amostras com materiais de alta densidade.

Versatilidade dos LES inigualável 

A series dos LES fornecem várias opções de modelos: E1, M2, C1, C2 e C3. Soluções personalizáveis, desde uma fonte única e configurações de cabine pequena até fontes triplas e configurações de cabine maior.

Os sistemas podem ser instalados em um invólucro de radiação existente ou fornecidos com um novo invólucro modular com design ergonómico e funcionalidades intuitivas para os utilizadores.

Para amostras que sejam mais densas, pesadas, ou com várias medidas de altura, os LES podem ser configurados e personalizados, incluindo as opções de detetores de painel com digitalização rápida e funcionalidades X.Tend helicoidal para todos os tamanhos de amostra, aumentando assim a sua versatilidade.

A base em granito fornece uma digitalização ultra precisa, onde nas sérias E e M o manipulador de amostras possui deslocamento vertical. Já a série C possui fonte de Raios-X vertical intuitiva e detetor de movimento, tornando-a assim mais indicada a qualquer aplicação.

 Tecnologia de fonte de raios-X de alta potencia

A tecnologia de fonte de Raio-X líder mundial, avançada, projetada internamente, com classificação de 180kV a 450kV, está no cerne da qualidade de imagem superior dos sistemas de Raios-X e Tomografia Computorizada da Nikon Metrology.

 A única fonte de Raios-X de microfoco de alta energia de 450kV e tecnologia de alvo rotativo de alto brilho resultam numa resolução de imagem superior, relativamente aos todos os outros sistemas de microfoco no mercado, e muito melhor do que a obtida com fontes de minifoco.

Isso permite a aquisição de dados de Tomografia Computorizada mais rápida, tirando mais radiografias em um determinado momento, sem perder qualidade da imagem, ou maior precisão e resolução de dados ao mesmo tempo.

Contudo há a possibilidade de combinar no mesmo sistema, um microfoco de 450kV e uma fonte de minifoco de 450kV.

Especificações dos modelos standard disponíveis