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NIKON M1
Sistema configurável que permite escolher a fonte e o painel mais adequados à aplicação e capacidade de análise de componentes até 75kg.
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NIKON M2
Sistema que permite combinar duas fontes e dois detectores a fim de obter uma solução flexível e capaz de enfrentar até os mais exigentes desafios de reconstrução integral 3D.
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NIKON C2
Para além de permitir a combinação de duas diferentes fontes e paineis, este sistema é de elevadas dimensões e possibilita a análise de amostras até 150kg.
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